掃描電鏡如何獲得樣品的三維形貌?
掃描電鏡(SEM)?能夠通過多種技術(shù)獲取樣品的三維(3D)形貌。雖然傳統(tǒng)的SEM圖像通常提供的是樣品表面的二維投影,但通過一些先進(jìn)的技術(shù)和方法,可以推導(dǎo)出樣品的三維結(jié)構(gòu)。
MORE INFO → 常見問題 2024-11-15
掃描電鏡(SEM)?能夠通過多種技術(shù)獲取樣品的三維(3D)形貌。雖然傳統(tǒng)的SEM圖像通常提供的是樣品表面的二維投影,但通過一些先進(jìn)的技術(shù)和方法,可以推導(dǎo)出樣品的三維結(jié)構(gòu)。
MORE INFO → 常見問題 2024-11-15
在掃描電鏡(SEM)?中,樣品的電荷積累(也稱為靜電積累)是一個(gè)常見的問題,特別是當(dāng)樣品是非導(dǎo)電性或?qū)щ娦圆顣r(shí)。
MORE INFO → 常見問題 2024-11-15
在掃描電鏡(SEM)?圖像中,灰度值的選擇對(duì)于數(shù)據(jù)分析的結(jié)果有顯著影響,尤其是在圖像定量分析、表面特征提取、形態(tài)學(xué)分析和物質(zhì)成分識(shí)別等方面。
MORE INFO → 常見問題 2024-11-08
在掃描電鏡(SEM)?中,束流電壓和束流電流是影響圖像質(zhì)量、分辨率和成像深度的關(guān)鍵參數(shù)。
MORE INFO → 常見問題 2024-11-08
樣品桿的材質(zhì)選擇對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果有重要影響,特別是在掃描電鏡(SEM)、透射電鏡(TEM)等儀器中進(jìn)行高精度分析時(shí)。
MORE INFO → 常見問題 2024-10-14
在掃描電子顯微鏡(SEM)?中,長(zhǎng)時(shí)間掃描是一種有效減少圖像偽影(artifacts)的方法。
MORE INFO → 常見問題 2024-09-20
掃描電子顯微鏡(SEM)?是分析樣品斷裂面的強(qiáng)大工具,通過其高分辨率的成像能力,結(jié)合多種分析技術(shù),能夠詳細(xì)研究斷裂機(jī)制、材料的微觀結(jié)構(gòu)以及斷裂模式。
MORE INFO → 常見問題 2024-09-18
多電壓成像(multi-voltage imaging)是掃描電子顯微鏡(SEM)?中一種技術(shù),通過在不同的加速電壓下對(duì)同一位置進(jìn)行成像,來獲得更多的樣品信息。
MORE INFO → 常見問題 2024-08-12