PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)
PicoFemto NI-100 SEM納米力測(cè)量將納米壓痕儀集成進(jìn)掃描電鏡中,使用戶(hù)可以在掃描電鏡中進(jìn)行原位納米壓痕研究。SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)價(jià)格請(qǐng)咨詢(xún)18817557412(微信同號(hào))
PicoFemto NI-100 SEM納米力測(cè)量將納米壓痕儀集成進(jìn)掃描電鏡中,使用戶(hù)可以在掃描電鏡中進(jìn)行原位納米壓痕研究。該系統(tǒng)由一個(gè)三維壓電驅(qū)動(dòng)的樣品臺(tái)和一個(gè)納米力測(cè)量探針組成。樣品安裝方式靈活多樣,可在三維納米位移臺(tái)的驅(qū)動(dòng)下,達(dá)到超過(guò)5 mm的準(zhǔn)確定位,定位分辨率優(yōu)于100 nm,以使待測(cè)量區(qū)域準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)力探針。
力探針同樣由壓電驅(qū)動(dòng),在軸向達(dá)到100 um的伸縮長(zhǎng)度,位移分辨率優(yōu)于0.25mm。由力傳感器準(zhǔn)確測(cè)量所施加的力的載荷,可測(cè)拉力和壓力。并有不同的大量程的力傳感器可選配,達(dá)到很好的測(cè)量效果。通過(guò)搭配電學(xué)、光學(xué)、加熱等模塊,該產(chǎn)品還可以實(shí)現(xiàn)包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場(chǎng)耦合研究。
PicoFemto NI-100 SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)基本技術(shù)參數(shù)表
部分國(guó)內(nèi)用戶(hù)
部分國(guó)外用戶(hù)
以上就是澤攸科技對(duì)PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)的介紹,關(guān)于價(jià)格請(qǐng)咨詢(xún)15756003283(微信同號(hào))